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霍尔效应测试探针台系统产品优势及适用范围返回列表

霍尔效应测试产品有:振动样品磁强计 VSM、霍尔效应测试系统HEMS、霍尔效应测试系统EzHEMS霍尔效应测试系统HEMS适用范围: GaAS based

霍尔效应测试产品有:振动样品磁强计 VSM霍尔效应测试系统HEMS霍尔效应测试系统EzHEMS

霍尔效应测试系统HEMS适用范围: GaAS based materials (HEMSTs,pHEMTs,HBTs,FETs,MESFETs), lnP, InAs, GaN and AIN, Si, Ge, SiC, HgCdTd, ZnO, SiGe, MnGaAS, ZnO, 红外应用(LED, laser diodes, detectors), 金属氧化物, 有机材料, 无机材料, 铁氧体等。

霍尔效应测试系统EzHEMS

•电阻率测量范围:10-4-109Ω·cm(取决于样本)

•迁移率:1-107cm2/V·S(取决于样本)

•载流子浓度: 107 -1021 per cm3 (取决于样本)

•电流源:±2nAto±20mA,±12Vcompliance

振动样品磁强计VSM

VSM Measurement Parameters

• 振动头振动频率(校准):1-100Hz

• VSM振荡幅度范围:0.1mm-5mm

• 最大样品直径:6mm

• 适用于液体、粉末、块状样品测试